GB/T 4937.44-2025
Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
GB/T 4937.44-2025
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Дата опубликования
2025-12-02
Дата вступления в силу
2026-07-01
Код МКС
31.080.01
Разработан на основе
IEC 60749-44 :2016
Степень гармонизации
IDT
Количество страниц оригинала
20
Статус
Published
Тип стандарта
voluntary national standard
Язык оригинала
Chinese
Доступные языки
Имя файла
GPQ
L40
Стандарт GB/T 4937.44-2025 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/8278288.aspx