GB/T 11073-2025 | | | Test method for measuring radial resistivity variation on silicon wafers |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 11073-2025 | | Заглавие на английском языке | Test method for measuring radial resistivity variation on silicon wafers | | Дата опубликования | 2025-10-31 | | Дата вступления в силу | 2026-05-01 | | Код МКС | 77.040 | | Обозначение заменяемого(ых) | GB/T 11073-2007 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 12 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | H17 | |
|
|
Стандарт GB/T 11073-2025 входит в рубрики классификатора:
| | |
|