GB/T 45770-2025 | | | Surface chemical analysis-Atomic force microscopy-Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | GB/T 45770-2025 | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis-Atomic force microscopy-Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement | | Дата опубликования | 2025-06-30 | | Дата вступления в силу | 2026-01-01 | | Код МКС | 71.040.40 | | Разработан на основе | ISO 13095:2014 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 28 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | GPQ | G 04 | |
|
|
Стандарт GB/T 45770-2025 входит в рубрики классификатора:
| | |
|