| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Микроанализ электронно-зондовый. Растровая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33134,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Оптические материалы и компоненты. Метод определения водостойкости порошкообразного оптического стекла
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Микробиологический анализ. Сканирующая электронная микроскопия
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Растровая электронная микроскопия. Словарь
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Оптические материалы и компоненты. Метод определения климатической устойчивости оптического стекла
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Оптические материалы и компоненты. Технические требования к фториду кальция, используемому в инфракрасном спектре
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
8050,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Оптические фильтры объемного поглощения
|
Действует |
|
Перевод на русский язык
|
49420,00
|
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Требования к эталонному словарю. Часть 1. Общий обзор по организации и структуре
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
18346,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Требования к эталонному словарю. Часть 2. Определение классов и свойств
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
41371,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Электронный обмен электронными данными. Часть 1. Информационная модель NODIF
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Электронный обмен электронными данными. Часть 1. Информационная модель NODIF
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
37253,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Электронный обмен электронными данными. Часть 2. Отображение классов и свойств, определяемых в ISO 23584
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
24710,00
|
|
|
|
Микропучковый анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибрующего увеличения изображения с применением стандартных материалов с периодической структурой
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
|
|
Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33134,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов. Часть 2. Машинное зрение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
12168,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 1. Термины, определения и фундаментальные связи
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33134,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 2. Методы измерения и оценки
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 2. Методы измерения и оценки
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
37253,00
|
|
|
|
Оптика и фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 3. Калибровка и валидация оборудования для интерферометрического испытания и измерений
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
33134,00
|
|
| Страницы: ... / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 |