| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 22%)
в рублях |
|
|
Поверхностный химический анализ. Предлагаемая процедура сертификации оставшихся в рабочем стандартном образце areic доз, производимых имплантацией ионов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21411,00
|
|
|
|
Стандартные образцы. Установление и выражение метрологической прослеживаемости значений величин, приписанных стандартным образцам
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21411,00
|
|
Перевод на русский язык
|
42822,00
|
|
Комплект: На языке оригинала+Перевод на русский язык
|
53527,50
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики определения фона
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
10626,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Оже-электронная спектроскопия. Источник химической информации
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
21411,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение разрешения по плоскости, анализируемой площади и площади образца, наблюдаемой оператором
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Фундаментальные подходы к определению поперечного разрешения и резкости при использовании методов на базе пучка
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
36002,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Определение характеристик функциональных стеклянных подложек для биосенсорных устройств
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25217,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Измерение скорости напыления: метод сетчатой реплики с применением механического матричного профилометра
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15860,00
|
|
|
|
Эффективная практика подготовки эталонных материалов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
28707,00
|
|
|
|
Микрожидкостные насосы. Условные обозначения и информация о производительности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15860,00
|
|
|
|
Газовый анализ. Общие аспекты обеспечения качества калибровочных газовых смесей, используемых при пайке. Руководящие указания
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с тлеющим разрядом (GD-MS). Введение к использованию
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия тлеющего разряда. Эксплуатационные методики
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия тлеющего разряда. Эксплуатационные методики
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15860,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Использование рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF) в биологическом и экологическом анализе
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
25217,00
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). Метод измерения разрешения по массе в SIMS
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
15860,00
|
|
|
|
Жидкостная хроматография в критических условиях (LCCC). Химическая гетерогенность полиэтиленоксидов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
28707,00
|
|
|
|
Поверхностный химический анализ металлической оксидной пленки посредством спектрометрии оптического излучения с тлеющим разрядом
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Химический анализ поверхности. Анализ металлоксидных пленок с помощью оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
| Страницы: ... / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 / 16 / 17 / 18 / 19 |