 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO/TS 22933:2022 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). Метод измерения разрешения по массе в SIMS |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO/TS 22933:2022 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). Метод измерения разрешения по массе в SIMS | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis Secondary ion mass spectrometry Method for the measurement of mass resolution in SIMS | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 01.04.2022 | | Количество страниц оригинала | 22 | | Код цены | C | | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO/TS 22933:2022 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
18346,00
|
|
|
|