Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 22. Групповые технические условия на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы на основе процедур оценки их возможностей
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 22: Групповые технические условия на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы на основе процедур признания возможностей изготовителя
|
Действует |
На языке оригинала
|
68328,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 22. Раздел 1. Типовая форма частных технических условий на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы, прошедшие оценку их возможностей
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 22-1. Типовая форма частных технических условий на пленочные интегральные схемы и гибридные пленочные интегральные схемы на основе процедур признания возможностей изготовителя
|
Действует |
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-1. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Сертификация производственной линии. Общие технические условия
|
Действует |
На языке оригинала
|
68328,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-2. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Сертификация производственной линии. Внутренний визуальный контроль и специальные испытания
|
Действует |
На языке оригинала
|
72072,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-3. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Cертификация производственной линии. Контрольный лист и протокол внутренней оценки изготовителями
|
Действует |
На языке оригинала
|
68328,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-4. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Сертификация производственной линии. Форма частных технических условий
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 23-5. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Сертификация производственной линии. Методика оценки качества приемки
|
Действует |
На языке оригинала
|
46800,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 1
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 2
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 1. Общие положения
|
Действует |
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 1. Общие положения. Поправка 1
|
Действует |
На языке оригинала
|
-
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление
|
Действует |
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление. Поправка 1
|
Действует |
На языке оригинала
|
-
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр. Поправка 1
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
|
Действует |
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
Страницы: ... / 61 / 62 / 63 / 64 / 65 / 66 / 67 / 68 / 69 / 70 / 71 / 72 / 73 / 74 ... / 147 |