 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60748-11-1(1992) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11: Раздел 1: Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60748-11-1(1992) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11: Раздел 1: Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices; integrated circuits; part 11; section 1: internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits | | МКС | 31.200 | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | CIRCUIT ENGINEERING*ELECTRICAL ENGINEERING*INTEGRATED CIRCUITS*SEMICONDUCTOR DEVICES*SPECIFICATION*VISUAL INSPECTION (TESTING)*MACROSCOPIC ANALYSIS | | Гармонизирован с: | ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 | | Дата опубликования | 01.04.1992 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 74 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | H | |
| | Стандарт IEC 60748-11-1(1992) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
46800,00
|
|
|
|