| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 2
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 1. Общие положения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3240,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 1. Общие положения. Поправка 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3240,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление. Поправка 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр. Поправка 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6480,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST)
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST). Поправка 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Резко ускоренное стрессовое испытание (HAST) под воздействием влажного тепла в стационарном режиме
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6480,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5: Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6480,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре. Поправка 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3240,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов. Поправка 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
| Страницы: ... / 62 / 63 / 64 / 65 / 66 / 67 / 68 / 69 / 70 / 71 / 72 / 73 / 74 / 75 ... / 149 |