| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)в рублях
 | 
        
           
           
                
                |  | Формат для совместимого проектирования LSI-пакета и платы | Заменен | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | Нет 
   |  | 
            
                
                |  | Формат для совместимого проектирования LSI-пакета и платы | Действует | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 72900,00 
   |  | 
               
                
                |  | Внедрение технологии монтажа интегральных систем методом перевернутого кристалла и методом масштабирования кристалла | Отменен | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | Нет 
   |  | 
            
                
                |  | Методология описания и передачи данных о производстве изделия. Общие требования к внедрению | Отменен | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | Нет 
   |  | 
               
                
                |  | Платы печатные гибкие монтажные одно-и двухсторонние. Справочное руководство по эксплуатационным характеристикам | Отменен | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | Нет 
   |  | 
            
                
                |  | Метод испытания для измерения коэффициента диффузии влажности и растворимости воды в органических материалах, используемых в интегральных схемах | Заменен | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | Нет 
   |  | 
               
                
                |  | Соединители IEC 603-2, используемые в перспективных микропроцессорных системах. Расположение штырей | Действует | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 1620,00 
   |  | 
            
                
                |  | Мнемоника и символы для интегральных схем | Заменен | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | Нет 
   |  | 
               
                
                |  | Мнемоника и символы для интегральных схем | Действует | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 25110,00 
   |  | 
            
                
                |  | Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений. Часть 1-1. Общие условия и определения. Формат обмена данными, сканированными в ближней зоне  | Заменен | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | Нет 
   |  | 
               
                
                |  | Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1-1. Общие условия и определения. Формат обмена данными, сканированными в ближней зоне | Действует | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 59130,00 
   |  | 
            
                
                |  | Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4-1. Измерение наведенных излучений методом прямого соединения 1 Ом/150 Ом. Применение Руководства к IEC 61967-4 | Действует | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 45360,00 
   |  | 
               
                
                |  | Моделирование EMC IC. Часть 2-1. Теория моделирования черного ящика для кондуктивного излучения | Действует | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 32400,00 
   |  | 
            
                
                |  | Моделирование электромагнитной совместимости ИС. Часть 4-1. Использование модели ICIM-CI для прогнозирования помехоустойчивости ИС в печатной плате | Действует | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 40500,00 
   |  | 
               
                
                |  | Схемы интегральные. Аттестация производственной линии. Демонстрационные средства | Действует | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 3240,00 
   |                     
                            | 
                                    
                                    Перевод на русский язык
                                 | 6480,00 
   |  | 
            
                
                |  | Схемы интегральные. Аттестация производственной линии. Методология технологического анализа и анализа отказов | Действует | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 6480,00 
   |                                                 
                            | 
                                    
                                    Перевод на русский язык
                                 | 12960,00 
   |  | 
               
                
                |  | Интегральные схемы. Измерение электромагнитных эмиссий от 150 KHz до 1 GHz. Часть 3. Измерение излученных эмиссий. Метод сканирования поверхностей | Заменен | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | Нет 
   |  | 
            
                
                |  | Схемы интегральные. Измерение электромагнитного излучения. Часть 3. Измерение излучения. Метод сканирования поверхности | Действует | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 40500,00 
   |  | 
               
                
                |  | Схемы интегральные. Измерение стойкости к электромагнитным помехам. Часть 9. Измерение стойкости к радиационным помехам. Метод сканирования поверхности | Действует | 
                
                                           
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 32400,00 
   |  | 
            
                
                |  | Интегральные схемы. Измерение импульсной помехозащищенности. Часть 2. Синхронный нестационарный метод введения | Действует | 
                
                                                                       
                            | 
                                    
                                    На языке оригинала
                                 | 32400,00 
   |  | 
            
                
				    | Страницы:  1 /  2 /  3 /  4 /  5 /  6 /  7 |