 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 15470:2004 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 15470:2004 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters | | Дата отмены | 01.03.2017 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяющего | ISO 15470:2017 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 10.05.2004 | | Количество страниц оригинала | 12 | | Код цены | A | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 15470:2004 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|