|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 15470:2004 | на печать | Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 15470:2004 | Статус | Заменен | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters | Дата отмены | 01.03.2017 | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | Обозначение заменяющего | ISO 15470:2017 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 10.05.2004 | Количество страниц оригинала | 12 | Код цены | A | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 15470:2004 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Нет
|
|
|