Обозначение | ISO 15470:2004 |
Статус | Заменен |
Вид стандарта | ST |
Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора |
Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters |
Дата отмены | 01.03.2017 |
Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
Обозначение заменяющего | ISO 15470:2017 |
ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 |
Язык оригинала | английский |
Номер издания | 1 |
Дата опубликования | 10.05.2004 |
Количество страниц оригинала | 12 |
Код цены | A |
Примечание | |
![](/i/imgs/sp.gif) |