| Обозначение | ISO 15470:2004 |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters |
| Дата отмены | 01.03.2017 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| Обозначение заменяющего | ISO 15470:2017 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 10.05.2004 |
| Количество страниц оригинала | 12 |
| Код цены | A |
| Примечание | |
 |