 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 18114:2003 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия с вторичными ионами. Определение коэффициентов относительной чувствительности по эталонным материалам с имплантированными ионами |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 18114:2003 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия с вторичными ионами. Определение коэффициентов относительной чувствительности по эталонным материалам с имплантированными ионами | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials | | Дата отмены | 11.05.2021 00:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяющего | ISO 18114:2021 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 24.04.2003 | | Количество страниц оригинала | 12 | | Код цены | A | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 18114:2003 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|