 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 20341:2003 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия с применение вторичного йона. Метод оценки параметров по глубине разрешения с множественными дельта-слойными эталонными материалами |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 20341:2003 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия с применение вторичного йона. Метод оценки параметров по глубине разрешения с множественными дельта-слойными эталонными материалами | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 31.07.2003 | | Количество страниц оригинала | 11 | | Код цены | A | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 20341:2003 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
8050,00
|
|
|
|