|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 14880-2:2006 | на печать | Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2: Методы определения аберрации волнового фронта |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 14880-2:2006 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2: Методы определения аберрации волнового фронта | Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Microlens arrays -- Part 2: Test methods for wavefront aberrations | Код КС (ОКС, МКС) | 31.260 | ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 9 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 30.01.2006 | Количество страниц оригинала | 32 | Аннотация (область применения) | Эта часть ISO 14880 определяет методы тестирования аберраций волнового фронта для микролинз в матрицах микролинз. Он применим для матриц микролинз с очень маленькими линзами, образованными внутри или на одной или более поверхностях общей подложки. | Количество страниц перевода | 32 | Код цены | D | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 14880-2:2006 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
Перевод на русский язык |
44892,00
|
На языке оригинала |
22446,00
|
|
|