| Обозначение | ISO 14880-2:2006 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2: Методы определения аберрации волнового фронта |
| Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Microlens arrays -- Part 2: Test methods for wavefront aberrations |
| Код КС (ОКС, МКС) | 31.260 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 9 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 30.01.2006 |
| Количество страниц оригинала | 32 |
| Аннотация (область применения) | Эта часть ISO 14880 определяет методы тестирования аберраций волнового фронта для микролинз в матрицах микролинз. Он применим для матриц микролинз с очень маленькими линзами, образованными внутри или на одной или более поверхностях общей подложки. |
| Количество страниц перевода | 32 |
| Код цены | D |
| Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации |
 |