 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 6342:1993 |  на печать | | Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 6342:1993 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST*N | | Заглавие на русском языке | Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания | | Заглавие на английском языке | Micrographics; aperture cards; method of measuring thickness of buildup area | | Дата отмены | 24.07.2003 | | Код КС (ОКС, МКС) | 37.080 | | Ключевые слова (английский язык) | APERTURE CARDS*MICROFILM*MICROGRAPHICS*PUNCHED CARDS*TESTING*TESTS*THICKNESS MEASUREMENT | | Обозначение заменяющего | ISO 6342:2003 | | ТК – разработчик стандарта | TC 171 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 01.08.1993 | | Количество страниц оригинала | 6 | | Код цены | | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 6342:1993 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|