| Обозначение | ISO 6342:1993 |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST*N |
| Заглавие на русском языке | Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания |
| Заглавие на английском языке | Micrographics; aperture cards; method of measuring thickness of buildup area |
| Дата отмены | 24.07.2003 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 37.080 |
| Ключевые слова (английский язык) | APERTURE CARDS*MICROFILM*MICROGRAPHICS*PUNCHED CARDS*TESTING*TESTS*THICKNESS MEASUREMENT |
| Обозначение заменяющего | ISO 6342:2003 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 171 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 01.08.1993 |
| Количество страниц оригинала | 6 |
| Код цены | |
| Примечание | |
 |