|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 14606:2000 | на печать | Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 14606:2000 | Статус | Заменен | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials | Дата отмены | 01.12.2015 01:00:00 | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | Обозначение заменяющего | ISO 14606:2015 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 4 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 01.10.2000 | Количество страниц оригинала | 20 | Код цены | C | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 14606:2000 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Нет
|
|
|