 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 14606:2000 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 14606:2000 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials | | Дата отмены | 01.12.2015 01:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяющего | ISO 14606:2015 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 4 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 01.10.2000 | | Количество страниц оригинала | 20 | | Код цены | C | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 14606:2000 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|