Обозначение | ISO 14606:2000 |
Статус | Заменен |
Вид стандарта | ST |
Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов |
Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials |
Дата отмены | 01.12.2015 01:00:00 |
Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
Обозначение заменяющего | ISO 14606:2015 |
ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 4 |
Язык оригинала | английский |
Номер издания | 1 |
Дата опубликования | 01.10.2000 |
Количество страниц оригинала | 20 |
Код цены | C |
Примечание | |
|