| Обозначение | ISO 14606:2000 |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве стандартных образцов |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials |
| Дата отмены | 01.12.2015 01:00:00 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| Обозначение заменяющего | ISO 14606:2015 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 4 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 01.10.2000 |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| Код цены | C |
| Примечание | |
 |