 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 17560:2002 |  на печать | | Анализ поверхностей химический. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод профилирования по глубине для бора в кремнии |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 17560:2002 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Анализ поверхностей химический. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод профилирования по глубине для бора в кремнии | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of boron in silicon | | Дата отмены | 10.09.2014 00:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяющего | ISO 17560:2014 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 18.07.2002 | | Количество страниц оригинала | 16 | | Код цены | | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 17560:2002 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|