 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60444-2(1980) |  на печать | | Резонаторы кварцевые. Измерение параметров методом с нулевой фазой в П-образном четырехполюснике. Часть 2: Измерение динамической емкости кварцевых резонаторов методом сдвига фазы |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60444-2(1980) | | Заглавие на русском языке | Резонаторы кварцевые. Измерение параметров методом с нулевой фазой в П-образном четырехполюснике. Часть 2: Измерение динамической емкости кварцевых резонаторов методом сдвига фазы | | Заглавие на английском языке | Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network; part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units | | МКС | 31.140 | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | CAPACITANCE MEASUREMENT*CIRCUIT NETWORKS*CONNECTIONS FOR MEASUREMENT*CRYSTALS (ELECTRONIC)*DYNAMIC*ELECTRICAL ENGINEERING*MEASUREMENT*MEASURING ACCURACY*MEASURING TECHNIQUES*MOTIONAL*PARAMETERS*PHASE MEASUREMENT (ELECTRIC)*PHASE OFFSET METHOD*PRINCIPLE OF MEASUREMENT*CAPACITANCE*ELECTRIC MEASUREMENTS*PIEZOELECTRIC CRYSTALS | | Примечание | Перевод выполнен без учета измененной части нового издания | | Дата опубликования | 01.01.1980 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 22 | | Количество страниц перевода | 14 | | ТК – разработчик стандарта | TC 49 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | C | |
| | Стандарт IEC 60444-2(1980) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
7488,00
|
|
|
|