| Обозначение | IEC 60444-2(1980) |
| Заглавие на русском языке | Резонаторы кварцевые. Измерение параметров методом с нулевой фазой в П-образном четырехполюснике. Часть 2: Измерение динамической емкости кварцевых резонаторов методом сдвига фазы |
| Заглавие на английском языке | Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network; part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units |
| МКС | 31.140 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | CAPACITANCE MEASUREMENT*CIRCUIT NETWORKS*CONNECTIONS FOR MEASUREMENT*CRYSTALS (ELECTRONIC)*DYNAMIC*ELECTRICAL ENGINEERING*MEASUREMENT*MEASURING ACCURACY*MEASURING TECHNIQUES*MOTIONAL*PARAMETERS*PHASE MEASUREMENT (ELECTRIC)*PHASE OFFSET METHOD*PRINCIPLE OF MEASUREMENT*CAPACITANCE*ELECTRIC MEASUREMENTS*PIEZOELECTRIC CRYSTALS |
| Примечание | Перевод выполнен без учета измененной части нового издания |
| Дата опубликования | 01.01.1980 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 22 |
| Количество страниц перевода | 14 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 49 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | C |
 |