 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-30(2005) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-30(2005) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62182(2000) | | Обозначение заменяющего | IEC 60749-30(2020) | | Обозначение заменяющего в части | IEC 60749-30(2005)/Amd.1(2011) | | Дата опубликования | 27.01.2005 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 30 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC 60749-30(2005) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|