| Обозначение | IEC 60749-30(2005) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62182(2000) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-30(2020) |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60749-30(2005)/Amd.1(2011) |
| Дата опубликования | 27.01.2005 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 30 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | D |
 |