|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-19-2003 | на печать | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг |
|
| | Библиография Обозначение | DIN EN 60749-19-2003 | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003); German version EN 60749-19:2003 + Corrigendum 2003-06 | Дата опубликования | 01.10.2003 | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial)*DIN EN 60749-19(2002-05) | Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-19(2011-01) | Язык оригинала | немецкий | Количество страниц оригинала | 7 | Перекрестные ссылки | | Код цены | Preisgruppe 6 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-19-2003 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|