| Обозначение | DIN EN 60749-19-2003 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003); German version EN 60749-19:2003 + Corrigendum 2003-06 |
| Дата опубликования | 01.10.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial)*DIN EN 60749-19(2002-05) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-19(2011-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 7 |
| Перекрестные ссылки | |
| Код цены | Preisgruppe 6 |
 |