 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60747-10(1991) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 10: Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные схемы |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60747-10(1991) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 10: Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные схемы | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits | | МКС | 31.080.01; 31.200 | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | DISCRETE*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*ENVIRONMENTAL TESTING*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*MARKING*MEASUREMENT*QUALITY*QUALITY ASSESSMENT*QUALITY ASSURANCE*QUALITY ASSURANCE SYSTEMS*SAMPLES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SPECIFICATION*SPECIFICATIONS*TESTING*TYPE APPROVAL*VISUAL INSPECTION (TESTING)*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU*PROBATE PROCEDURE*QUALITY ASSURANCE PROGRA*MACROSCOPIC ANALYSIS | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60747-10(1984) | | Обозначение заменяющего в части | IEC 60747-10(1991)/Amd.1(1995); IEC 60747-10(1991)/Amd.2(1996); IEC 60747-10(1991)/Amd.3(1996) | | Дата опубликования | 01.04.1991 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 90 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 2.0 | | Статус | Отменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 60747-10(1991) входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|