| Обозначение | IEC 60747-10(1991) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 10: Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные схемы |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits |
| МКС | 31.080.01; 31.200 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | DISCRETE*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*ENVIRONMENTAL TESTING*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*MARKING*MEASUREMENT*QUALITY*QUALITY ASSESSMENT*QUALITY ASSURANCE*QUALITY ASSURANCE SYSTEMS*SAMPLES*SEMICONDUCTOR DEVICES*SPECIFICATION*SPECIFICATIONS*TESTING*TYPE APPROVAL*VISUAL INSPECTION (TESTING)*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU*PROBATE PROCEDURE*QUALITY ASSURANCE PROGRA*MACROSCOPIC ANALYSIS |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60747-10(1984) |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60747-10(1991)/Amd.1(1995); IEC 60747-10(1991)/Amd.2(1996); IEC 60747-10(1991)/Amd.3(1996) |
| Дата опубликования | 01.04.1991 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 90 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Отменен |
| Код цены | |
 |