 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60747-11(1985) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 11: Частные технические условия на дискретные приборы |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60747-11(1985) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 11: Частные технические условия на дискретные приборы | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11 : Sectional Specification for discrete devices | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | COMPONENTS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*MARKING*MEASUREMENT*METHODS FOR MEASURING*QUALITY*QUALITY ASSESSMENT*QUALITY ASSESSMENT SYSTEMS*SECTIONAL SPECIFICATION*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SPECIFICATIONS*TESTING*ELECTRONIC EQU | | Обозначение заменяющего в части | IEC 60747-11(1985)/Amd.1(1991); IEC 60747-11(1985)/Amd.2(1996) | | Примечание | Перевод выполнен без учета измененной части нового издания | | Дата опубликования | 01.01.1985 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 38 | | Количество страниц перевода | 32 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Отменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 60747-11(1985) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|