| Обозначение | IEC 60747-11(1985) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 11: Частные технические условия на дискретные приборы |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11 : Sectional Specification for discrete devices |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | COMPONENTS*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*MARKING*MEASUREMENT*METHODS FOR MEASURING*QUALITY*QUALITY ASSESSMENT*QUALITY ASSESSMENT SYSTEMS*SECTIONAL SPECIFICATION*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SPECIFICATIONS*TESTING*ELECTRONIC EQU |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60747-11(1985)/Amd.1(1991); IEC 60747-11(1985)/Amd.2(1996) |
| Примечание | Перевод выполнен без учета измененной части нового издания |
| Дата опубликования | 01.01.1985 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 38 |
| Количество страниц перевода | 32 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Отменен |
| Код цены | |
 |