 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62528(2007) |  на печать | | Стандартный метод проверки возможности тестирования для встроенных интегрированных цепей на основе ядра микропроцессора |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62528(2007) | | Заглавие на русском языке | Стандартный метод проверки возможности тестирования для встроенных интегрированных цепей на основе ядра микропроцессора | | Заглавие на английском языке | Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits | | МКС | 31.220 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 15.11.2007 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 130 | | ТК – разработчик стандарта | TC 93 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | N | |
| | Стандарт IEC 62528(2007) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
66420,00
|
|
|
|