| Обозначение | IEC 62528(2007) |
| Заглавие на русском языке | Стандартный метод проверки возможности тестирования для встроенных интегрированных цепей на основе ядра микропроцессора |
| Заглавие на английском языке | Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits |
| МКС | 31.220 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 15.11.2007 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 130 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 93 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | N |
 |