 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60747-2(1983) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 2: Выпрямительные диоды |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60747-2(1983) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 2: Выпрямительные диоды | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Discrete devices. Part 2 : Rectifier diodes | | МКС | 31.080.10 | | Вид стандарта | ST*N | | Дескрипторы (английский язык) | ACCEPTANCE INSPECTION*DEFINITIONS*DIODES*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LIMITS (MATHEMATICS)*MARKING*MEASUREMENT*RATINGS*RECTIFIER DIODES*RELIABILITY*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SYMBOLS*ACCEPTANCE TESTING*SPECIFICATIONS*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60147-1G(1975)*IEC 60147-0D(1974)*IEC 60147-0E(1979)*IEC 60147-0(1966)*IEC 60147-0B(1969)*IEC 60147-0C(1973)*IEC 60147-0F(1982)*IEC 60147-1(1972)*IEC 60147-1F(1973)*IEC 60147-1H(1981)*IEC 60147-1J(1981)*IEC 60147-2(1963)*IEC 60147-2B(1970)*IEC 60147-2C(1970)*IEC 60147-2F(1974)*IEC 60147-2K(1978)*IEC 60147-2M(1980)*IEC 60147-3(1970)*IEC 60147-3A(1973)*IEC 60147-4(1976) | | Обозначение заменяющего | IEC 60747-2(2000) | | Обозначение заменяющего в части | IEC 60747-2(1983)/Amd.1(1992); IEC 60747-2(1983)/Amd.2(1993) | | Дата опубликования | 01.01.1983 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 101 | | ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 60747-2(1983) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|