| Обозначение | IEC 60747-2(1983) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 2: Выпрямительные диоды |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices. Discrete devices. Part 2 : Rectifier diodes |
| МКС | 31.080.10 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | ACCEPTANCE INSPECTION*DEFINITIONS*DIODES*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRICAL MEASUREMENT*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LIMITS (MATHEMATICS)*MARKING*MEASUREMENT*RATINGS*RECTIFIER DIODES*RELIABILITY*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SYMBOLS*ACCEPTANCE TESTING*SPECIFICATIONS*ELECTRIC MEASUREMENTS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60147-1G(1975)*IEC 60147-0D(1974)*IEC 60147-0E(1979)*IEC 60147-0(1966)*IEC 60147-0B(1969)*IEC 60147-0C(1973)*IEC 60147-0F(1982)*IEC 60147-1(1972)*IEC 60147-1F(1973)*IEC 60147-1H(1981)*IEC 60147-1J(1981)*IEC 60147-2(1963)*IEC 60147-2B(1970)*IEC 60147-2C(1970)*IEC 60147-2F(1974)*IEC 60147-2K(1978)*IEC 60147-2M(1980)*IEC 60147-3(1970)*IEC 60147-3A(1973)*IEC 60147-4(1976) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-2(2000) |
| Обозначение заменяющего в части | IEC 60747-2(1983)/Amd.1(1992); IEC 60747-2(1983)/Amd.2(1993) |
| Дата опубликования | 01.01.1983 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 101 |
| ТК – разработчик стандарта | IEC/TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |