| Обозначение | IEC 60748-11-1(1992) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11: Раздел 1: Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices; integrated circuits; part 11; section 1: internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits |
| МКС | 31.200 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Дескрипторы (английский язык) | CIRCUIT ENGINEERING*ELECTRICAL ENGINEERING*INTEGRATED CIRCUITS*SEMICONDUCTOR DEVICES*SPECIFICATION*VISUAL INSPECTION (TESTING)*MACROSCOPIC ANALYSIS |
| Гармонизирован с: | ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 |
| Дата опубликования | 01.04.1992 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 74 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | H |
 |