 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60747-1(1983)/Amd.3(1996) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 1: Общие положения. Изменение 1 |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60747-1(1983)/Amd.3(1996) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 1: Общие положения. Изменение 1 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 1: General; Amendment 3 | | МКС | 31.080 | | Вид стандарта | ST | | Дескрипторы (английский язык) | COLOUR CODES*COMPONENTS*CONNECTIONS*DEFINITIONS*DISCRETE DEVICES*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*GRAPHIC SYMBOLS*HANDLING*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LAYOUT*LIFE (DURABILITY)*LIMITS (MATHEMATICS)*MARKING*MARKS*MEASUREMENT*MEASURING TECHNIQUES*RATINGS*REFERENCE METHODS*RELIABILITY*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SIGNS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SYMBOLS*TESTING*WARNING SYMBOLS*SPECIFICATIONS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS*LIFE : DURABILITY | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC/DIS 47(Central Office)1336(1992.07)*IEC 60747-1 AMD 2(1993.10) | | Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(2006) | | Обозначение заменяемого в части | IEC 60747-1(1983) | | Дата опубликования | 01.09.1996 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 83 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 60747-1(1983)/Amd.3(1996) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|