| Обозначение | IEC 60747-1(1983)/Amd.3(1996) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 1: Общие положения. Изменение 1 |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 1: General; Amendment 3 |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST |
| Дескрипторы (английский язык) | COLOUR CODES*COMPONENTS*CONNECTIONS*DEFINITIONS*DISCRETE DEVICES*ELECTRICAL ENGINEERING*ELECTRONIC ENGINEERING*ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS*GRAPHIC SYMBOLS*HANDLING*INSPECTION*INTEGRATED CIRCUITS*LAYOUT*LIFE (DURABILITY)*LIMITS (MATHEMATICS)*MARKING*MARKS*MEASUREMENT*MEASURING TECHNIQUES*RATINGS*REFERENCE METHODS*RELIABILITY*SEMICONDUCTOR DEVICES*SEMICONDUCTORS*SIGNS*SPECIFICATION (APPROVAL)*SYMBOLS*TESTING*WARNING SYMBOLS*SPECIFICATIONS*ELECTRONIC EQU*MATHEMATICS*LIFE : DURABILITY |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/DIS 47(Central Office)1336(1992.07)*IEC 60747-1 AMD 2(1993.10) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60747-1(2006) |
| Обозначение заменяемого в части | IEC 60747-1(1983) |
| Дата опубликования | 01.09.1996 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 83 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | |
 |