 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-37(2008) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-37(2008) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62050(2004) | | Обозначение заменяющего | IEC 60749-37(2022) | | Дата опубликования | 01.02.2008 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 44 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | E | |
| | Стандарт IEC 60749-37(2008) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|