| Обозначение | IEC 60749-37(2008) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытания. Часть 37. Метод испытания на удар печатных плат при падении с номинального уровня с помощью акселерометра |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62050(2004) |
| Обозначение заменяющего | IEC 60749-37(2022) |
| Дата опубликования | 01.02.2008 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 44 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | E |
 |