 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50440-1-1981 |  на печать | | Кремний для полупроводниковых приборов. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в прямоугольном образце монокристалла методом фотопроводимости |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50440-1-1981 | | Заглавие на русском языке | Кремний для полупроводниковых приборов. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в прямоугольном образце монокристалла методом фотопроводимости | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology; measurement of recombination carrier lifetime in silicon single crystals by means of photo conductive decay method; measurement on bar-shaped specimens | | Дата опубликования | 01.11.1981 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST*N | | Обозначение заменяющего | DIN 50440(1998.11) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 5 | | Перекрестные ссылки | DIN 19226*DIN 41852 | | Код цены | Preisgruppe 6 | |
| | Стандарт DIN 50440-1-1981 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|