| Обозначение | DIN 50440-1-1981 |
| Заглавие на русском языке | Кремний для полупроводниковых приборов. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в прямоугольном образце монокристалла методом фотопроводимости |
| Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology; measurement of recombination carrier lifetime in silicon single crystals by means of photo conductive decay method; measurement on bar-shaped specimens |
| Дата опубликования | 01.11.1981 |
| МКС | 29.045 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Обозначение заменяющего | DIN 50440(1998.11) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 5 |
| Перекрестные ссылки | DIN 19226*DIN 41852 |
| Код цены | Preisgruppe 6 |
 |