![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 23812:2009 | на печать | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки глубины для кремния с помощью многослойных дельта-эталонных материалов |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | ISO 23812:2009 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод калибровки глубины для кремния с помощью многослойных дельта-эталонных материалов | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 08.04.2009 | Количество страниц оригинала | 26 | Код цены | D | Примечание | | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт ISO 23812:2009 входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На языке оригинала |
22446,00
|
|
|