 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 24173:2009 |  на печать | | Микроанализ электронно-зондовый. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции обратнорассеянных электронов |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 24173:2009 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Микроанализ электронно-зондовый. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции обратнорассеянных электронов | | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction | | Дата отмены | 09.02.2024 01:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.50 | | Обозначение заменяющего | ISO 24173:2024 | | ТК – разработчик стандарта | TC 202 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 14.09.2009 | | Количество страниц оригинала | 50 | | Код цены | F | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 24173:2009 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|