| Обозначение | ISO 24173:2009 |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Микроанализ электронно-зондовый. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции обратнорассеянных электронов |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction |
| Дата отмены | 09.02.2024 01:00:00 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.50 |
| Обозначение заменяющего | ISO 24173:2024 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 14.09.2009 |
| Количество страниц оригинала | 50 |
| Код цены | F |
| Примечание | |
 |