 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 25498:2010 |  на печать | | Микропучковый анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронный диффракционный анализ с применением трансмиссионного микроскопа |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 25498:2010 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Микропучковый анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронный диффракционный анализ с применением трансмиссионного микроскопа | | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope | | Дата отмены | 16.03.2018 01:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.50 | | Обозначение заменяющего | ISO 25498:2018 | | ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 3 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 17.05.2010 | | Количество страниц оригинала | 36 | | Код цены | E | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 25498:2010 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|