| Обозначение | ISO 25498:2010 |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Микропучковый анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронный диффракционный анализ с применением трансмиссионного микроскопа |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope |
| Дата отмены | 16.03.2018 01:00:00 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.50 |
| Обозначение заменяющего | ISO 25498:2018 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 3 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 17.05.2010 |
| Количество страниц оригинала | 36 |
| Код цены | E |
| Примечание | |
 |