 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 12406:2010 |  на печать | | Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Метод профилирования глубины местонахождения мышьяка в кремнии |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 12406:2010 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Метод профилирования глубины местонахождения мышьяка в кремнии | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of arsenic in silicon | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 08.11.2010 | | Количество страниц оригинала | 20 | | Код цены | C | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 12406:2010 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
15876,00
|
|
|
|