 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62047-12-2012 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62047-12-2012 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures (IEC 62047-12:2011); German version EN 62047-12:2011 | | Дата опубликования | 01.06.2012 | | МКС | 31.080.01*31.220.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 62047-12(2010-05) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 31 | | Перекрестные ссылки | IEC 62047-2(2006-08)*IEC 62047-3(2006-08)*ISO 12107(2003-03) | | Код цены | Preisgruppe 17 | |
| | Стандарт DIN EN 62047-12-2012 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|