Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4688163.aspx

DIN EN 62047-12-2012

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN EN 62047-12-2012
Заглавие на русском языкеПолупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures (IEC 62047-12:2011); German version EN 62047-12:2011
Дата опубликования01.06.2012
МКС31.080.01*31.220.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) DIN IEC 62047-12(2010-05)
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала31
Перекрестные ссылкиIEC 62047-2(2006-08)*IEC 62047-3(2006-08)*ISO 12107(2003-03)
Код ценыPreisgruppe 17

Стандарт DIN EN 62047-12-2012 входит в рубрики классификатора: